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Sistema automático de adquisición de datos para un medidor de deformación./ Fernando Flores Cifuentes

By: Flores Cifuentes, Fernando.
Contributor(s): Espinosa Ramón, Alfonso [director].
Material type: Mixed materialsMixed materialsPublisher: Quito : EPN, 1984Description: 295 páginas : ilustraciones, 29 x 21 cm.Subject(s): Decodificación | Microprocesadores | Interfaces | Diseño y construcciónOther classification: T-IE/ Online resources: Texto completo Dissertation note: FACULTAD DE INGENIERIA ELECTRICA Y ELECTRONICA 1984 Tesis (Ingeniero en Electrónica y Telecomunicaciones). -- Escuela Politécnica Nacional. Summary: El equipo construido facilita la medición de las deformaciones unitarias producidas por diferentes acciones tales como flexión, tracción, compensación, etc. y se lo utiliza con el medidor de deformación BRUEL JKJAER 1526 y con los equipos B K 1544 y B K 1545. El sistema permite almacenar en forma multiplexada la información proveniente de hasta 100 puntos de medición diferentes, con un máximo de 9999 mediciones cuando se muestra un solo canal. Esta información es mostrada en un display indicándose el valor del nivel de deformación, el canal desde el cual se realizó la medición, y la identificación del número de la medición. La indicación de la escala de tiempos de muestreo se indica en diodos luminosos. Para el proceso de escritura o adquisición de datos, existen las siguientes escalas: Horas, minutos y segundos con un factor de 0.1, 1 y 10 respectivamente. La información almacenada en memoria puede ser recuperada en 1 seg, 5 seg, y en forma manual. Existe la posibilidad de obtener la información en un impresor a través de un interface serial RS-232C. El sistema está controlado por un microprocesador MC6802, ofreciendo una gran versatilidad en la operación y programación por parte de los usuarios. Para realizar estas operaciones existe un teclado y algunos switches adicionales. La capacidad de memoria del sistema inicialmente es de 24 Kbytes, existiendo la posibilidad de expandir hasta 58 Kbytes
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Tesis Tesis BIBLIOTECA DE ING. ELÉCTRICA Y ELECTRÓNICA
TESIS (NIVEL II) J6 621.381548 F634 TESIS (Browse shelf) Ej. 1 Available 581
Tesis Tesis BIBLIOTECA GENERAL
T-IE/0635 (Browse shelf) Ej. 2 Available 025182
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FACULTAD DE INGENIERIA ELECTRICA Y ELECTRONICA 1984 Tesis (Ingeniero en Electrónica y Telecomunicaciones). -- Escuela Politécnica Nacional.

Incluye referencia bibliográfica

El equipo construido facilita la medición de las deformaciones unitarias producidas por diferentes acciones tales como flexión, tracción, compensación, etc. y se lo utiliza con el medidor de deformación BRUEL JKJAER 1526 y con los equipos B K 1544 y B K 1545. El sistema permite almacenar en forma multiplexada la información proveniente de hasta 100 puntos de medición diferentes, con un máximo de 9999 mediciones cuando se muestra un solo canal. Esta información es mostrada en un display indicándose el valor del nivel de deformación, el canal desde el cual se realizó la medición, y la identificación del número de la medición. La indicación de la escala de tiempos de muestreo se indica en diodos luminosos. Para el proceso de escritura o adquisición de datos, existen las siguientes escalas: Horas, minutos y segundos con un factor de 0.1, 1 y 10 respectivamente. La información almacenada en memoria puede ser recuperada en 1 seg, 5 seg, y en forma manual. Existe la posibilidad de obtener la información en un impresor a través de un interface serial RS-232C. El sistema está controlado por un microprocesador MC6802, ofreciendo una gran versatilidad en la operación y programación por parte de los usuarios. Para realizar estas operaciones existe un teclado y algunos switches adicionales. La capacidad de memoria del sistema inicialmente es de 24 Kbytes, existiendo la posibilidad de expandir hasta 58 Kbytes

Fernando Flores Cifuentes cedido 2014/09/16 477 $ 0.20 Ej. 1 Biblioteca Central

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