Sistemas de detección y corrección de errores en memorias de computadoras. Roberto Corral Dávalos

By: Corral Dávalos, Roberto
Contributor(s): Jacobson, Herbert [director]
Material type: Mixed materialsMixed materialsPublisher: Quito : EPN, 1982Description: 163 páginas : ilustraciones, 29 x 21 cmSubject(s): Detección de errores | Corrección de errores | Memorias | Diseño y construcciónOther classification: T-IE/ Online resources: Texto completo Dissertation note: FACULTAD DE INGENIERIA ELECTRICA Y ELECTRONICA 1982 Tesis (Ingeniero en Electrónica y Telecomunicaciones). -- Escuela Politécnica Nacional. Summary: Se construye un sistema de 16 KBytes de memoria con detección y corrección de errores, el cual se acopla al microcomputador MEK 6800 D2. El sistema detecta y corrige errores simples 1 bit errado y detecta los dobles utilizando para ello el código Hamming y 5 bits adicionales de memoria en los que se almacena información generada por circuitos de paridad y que está relacionada con la palabra de datos. El error más generalizado que afecta a los sistemas de memoria es producido por radiaciones alfa cuya fuente puede ser el material que conforma los integrados de memoria. Estos errores al ser de caracter aleatoria se presentan solamente en una relación de 1 error en 5 millones de horas de operación
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Tesis Tesis BIBLIOTECA DE ING. ELÉCTRICA Y ELECTRÓNICA
TESIS (NIVEL II) K4 621.3819533 C823 TESIS (Browse shelf) Ej. 1 Available 518
Tesis Tesis BIBLIOTECA GENERAL
T-IE/0572 (Browse shelf) Ej. 2 Available 025245
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FACULTAD DE INGENIERIA ELECTRICA Y ELECTRONICA 1982 Tesis (Ingeniero en Electrónica y Telecomunicaciones). -- Escuela Politécnica Nacional.

Se construye un sistema de 16 KBytes de memoria con detección y corrección de errores, el cual se acopla al microcomputador MEK 6800 D2. El sistema detecta y corrige errores simples 1 bit errado y detecta los dobles utilizando para ello el código Hamming y 5 bits adicionales de memoria en los que se almacena información generada por circuitos de paridad y que está relacionada con la palabra de datos. El error más generalizado que afecta a los sistemas de memoria es producido por radiaciones alfa cuya fuente puede ser el material que conforma los integrados de memoria. Estos errores al ser de caracter aleatoria se presentan solamente en una relación de 1 error en 5 millones de horas de operación

Roberto Corral Dávalos cedido 2014/09/17 512 $ 0.20 Ej. 1 Biblioteca Central

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